清潔度顆粒分析系統(tǒng)是用于檢測(cè)液體或氣體中微小顆粒污染物的數(shù)量、大小分布及成分的專(zhuān)業(yè)設(shè)備，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造、精密機(jī)械加工、航空航天、醫(yī)藥生產(chǎn)等領(lǐng)域。
一、硬件架構(gòu)
1.采樣單元
等動(dòng)力探頭設(shè)計(jì)確保各截面粒子均勻收集
伴熱功能防止高粘度介質(zhì)凝固堵塞（如潤(rùn)滑油系統(tǒng)）
2.傳感器陣列
采用光纖傳導(dǎo)避免電磁干擾，配置自動(dòng)增益調(diào)節(jié)電路應(yīng)對(duì)信號(hào)衰減
多波長(zhǎng)復(fù)合光源消除不同材質(zhì)引起的測(cè)量偏差（金屬/氧化物/有機(jī)物區(qū)分）
3.數(shù)據(jù)處理中心
FPGA高速數(shù)據(jù)采集卡實(shí)現(xiàn)每秒百萬(wàn)次計(jì)數(shù)能力
嵌入式Linux系統(tǒng)運(yùn)行定制化算法，支持邊緣計(jì)算預(yù)處理
4.輔助裝置
真空脫氣模塊去除溶解氣體產(chǎn)生的氣泡干擾
超聲分散器打破團(tuán)聚體獲取真實(shí)粒徑分布
二、清潔度顆粒分析系統(tǒng)軟件功能亮點(diǎn)
1.三維建模可視化：將點(diǎn)云數(shù)據(jù)重構(gòu)為立體模型，直觀展示空間分布特征
2.趨勢(shì)預(yù)測(cè)引擎：基于歷史數(shù)據(jù)的機(jī)器學(xué)習(xí)模型預(yù)警濾芯更換周期
3.審計(jì)追蹤日志：符合FDA 21 CFR Part 11規(guī)范的數(shù)據(jù)完整性管理
4.多語(yǔ)言API接口：無(wú)縫對(duì)接MES/SCADA系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)智能化管控
清潔度顆粒分析系統(tǒng)必須嚴(yán)格遵守的操作禁忌：
禁止帶壓拆卸*何高壓連接件（殘余壓力可能導(dǎo)致噴射傷害）
避免在強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境下使用（會(huì)影響電子元件正常工作）
嚴(yán)禁非授權(quán)人員修改校準(zhǔn)參數(shù)（可能導(dǎo)致批量誤判）
定期校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)溯源性（建議每年送回原廠復(fù)驗(yàn)）
歡迎來(lái)到蘇州品恩儀器科技有限公司網(wǎng)站！
蘇公網(wǎng)安備32050602012893 sitemap.xml 技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登陸